概述

超聲波涂層測厚儀，帶數(shù)值顯示，A/B掃描功能。采用脈沖反射超聲波測厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面?zhèn)鞑?，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。測量分辨率達0.001mm，測量范圍薄至0.02mm，可以同時測量涂層和基材的厚度。

本產(chǎn)品可應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各個領(lǐng)域。

符合標(biāo)準：《超聲波測厚儀校準規(guī)范》 JJF 1126-2004。

主要功能

• 測量范圍寬，最小測量厚度涂層20μm，最大測量厚度1800mm（視具體材料而定，可擴展）；

• 可測每一層最薄0.02mm（20μm），對聲速2310m/s的塑料材料，最低0.05mm（50μm）。對聲速低于1000m/s的涂層材料，最薄可測0.02mm（20μm），加基材測量厚度最厚可達1800mm，可以測十層復(fù)合層每一層的厚度但不限于十層（無數(shù)層），且不限于涂層和基材的材質(zhì)，任何材質(zhì)均可以測量；

• 高精度測厚，最高測量分辨率可達0.001mm；重復(fù)分辨率可達±0.002mm；

• A-掃描模式，B-掃描模式，數(shù)值顯示模式；

• 具有穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料；

• 根據(jù)材料聲速不同可以檢測部分復(fù)合材料上的涂層和漆層，可以同時測量10個以上的多層材料各層厚度，同一回波下切換顯示各層厚度值；

• 多種測量：THIN，MB-E，E-E，Auto模式滿足對常規(guī)厚工件測量；THIN E-E模式對薄涂層測量；

• 數(shù)值模式包括常規(guī)厚度值模式、差值/縮減率模式和最值模式；

• 增益模式：自動增益/手動增益；

• 可設(shè)置手動關(guān)機與自動關(guān)機，帶節(jié)能功能；

• 可使用多種不同規(guī)格探頭，雙晶探頭和單晶探頭，最高支持20MHz高頻探頭；

• 支持大容量存儲，可同時存儲10萬個厚度值，500組A掃描波形和500組B掃描波形；

• 具有多種校準方式，支持一點校準、多點校準和手動校準模式，可以同時校準聲速和探頭零位；支持V聲程校準；

• 公英制轉(zhuǎn)換，毫米和英寸可切換單位；

• 中文和英文顯示。

適用材料

測量金屬和非金屬（玻璃，復(fù)合材料，塑料，混凝土，木材等）基材上涂層厚度。

適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、樹脂、玻璃纖維及其他超聲波的良導(dǎo)體的厚度。

基本原理

采用脈沖反射超聲波測厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面?zhèn)鞑?，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。

規(guī)格參數(shù)